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Chroma Model 58173-FC LED 覆晶型全光通量自動(dòng)測試系統(tǒng)
2016-03-18
Chroma Model 58173-FC LED 覆晶型全光通量自動(dòng)測試系統(tǒng)
硬體設(shè)備
半自動(dòng)化 LED wafer/chip 點(diǎn)測設(shè)備
漏電流測試模組
電源量測單元
光學(xué)測試模組
ESD 測試模組 (選配)
Chroma Model 58173-FC LED 覆晶型全光通量自動(dòng)測試系統(tǒng)為針對覆晶型(Flip Chip) LED開發(fā)的半自 動(dòng)點(diǎn)測設(shè)備。特殊的無鉆孔玻璃平臺(tái)設(shè)計(jì)使得收光路徑上無任何干涉，因而達(dá)到更加精 準(zhǔn)的量測。
延用致茂研發(fā)的高速精準(zhǔn)的LED全光通量的量測方式 ，這種創(chuàng)新的量測方式不僅比傳統(tǒng) 方式收集更多的LED部分光通量，也明顯的改善 提升了量測準(zhǔn)確度。
在光學(xué)量測方面，主波長、峰波長、色溫等均可 透過致茂獨(dú)特的光學(xué)設(shè)計(jì)與元件取得精確且穩(wěn) 定快速之?dāng)?shù)據(jù)；在電性測試方面，58173-FC 則 具備完整之電源量測單元，無論順向電壓、漏電 流、逆向崩潰電壓等 LED 電性特性，均可于一 次滿足使用者的測試需求。
58173-FC將Prober和Tester完全整合，搭配彈性 調(diào)整的軟體操作界面及最佳邏輯演算法使得生產(chǎn) 效益大幅提升 ；完善的量產(chǎn)測試統(tǒng)計(jì)報(bào)表及分 析工具可以讓使用者用輕松掌握生產(chǎn)狀況。長沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司作為臺(tái)灣Chroma公司湖南區(qū)域的總代理，以下為長沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司為您簡單介紹Chroma Model 58173-FC LED 覆晶型全光通量自動(dòng)測試系統(tǒng)的技術(shù)參數(shù)及產(chǎn)品特點(diǎn)，如果您想對Chroma Model 58173-FC LED 覆晶型全光通量自動(dòng)測試系統(tǒng)有更多的了解，歡迎致電長沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司，聯(lián)系電話：0731-84284278 84284378。更多產(chǎn)品信息歡迎點(diǎn)擊：www.doleo.cn。長沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司。
Chroma Model 58173-FC LED 覆晶型全光通量自動(dòng)測試系統(tǒng)主要特色：
提供全方位電性測試 (200V/2A) ，可滿足HV及HP測試
Chroma大面積光偵測器(量測角度可達(dá)148度)
半自動(dòng)精密LED wafer/chip點(diǎn)測設(shè)備
特殊無鉆孔真空平臺(tái)設(shè)計(jì)
特制Edge Sensor具有點(diǎn)測針壓穩(wěn)定，無疲乏與針壓變動(dòng)問題
獨(dú)特螢?zāi)恢庇X式調(diào)針方式
機(jī)械視覺定位系統(tǒng)，縮短人工操作時(shí)間
Prober與Tester整合，效益大幅提升
自動(dòng)抽測功能
廣泛的芯片尺寸應(yīng)用(滿足Chip Size 7~120 mil測試)
彈性調(diào)整的軟體操作界面
快速芯片掃描系統(tǒng)
自動(dòng)破片掃描演算法
遮光罩設(shè)計(jì)，杜絕背景光干擾
即時(shí)顯示點(diǎn)測資料分布圖
完善的量產(chǎn)測試統(tǒng)計(jì)報(bào)表及分析工具
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